潔淨技術（CT）
透過潔淨技術（CT）以對應高度潔淨品質
衛生用途配管的加工產品，會隨著加工環境、洗淨捆包等潔淨度而大幅影響設備的品質。日章阿思鐵克在兩個工廠中具備有無塵室，以潔淨科技（CT）應對要求高度潔淨的品質。
潔淨技術的特徵
在潔淨環境中的細管細微加工（箕面工廠的無塵室）
亦進行有用於半導體或醫藥品之製造裝置當中的精密、潔淨配管的加工製造。根據客戶所要求的規格，以高精度將不銹鋼細管加工成潔淨的產品。即便是要求極高加工精度與材料表面品質的半導體或醫藥品製造設備的精密配管加工，亦請交給本公司來處理。
在潔淨環境中的電解拋光研磨之精密洗淨（篠山工廠的無塵室）
即使利用電解拋光研磨製作出高品質的研磨面，處理後的傷痕或污漬的附著，並不會有損於電解拋光研磨原本的品質。我們專注且細心的實施在酸洗鈍態處理、藉由超純水的洗淨、藉由潔淨氣體所進行的乾燥，以讓客戶能安心使用為目標，進行加工品的最後潔淨精修處理。
在潔淨環境中的無塵捆包（篠山工廠的無塵室）
對包裝材料及包裝方法也有所考究，與出貨部門合作，將高品質的產品遞交至客戶的現場。
無塵室中的細微加工
無塵室中的捆包
CT用語集
抑制懸浮粒子濃度，建設成用以將室內的微小粒子之流入、產生及停滯抑制在最低限度，且為因應需要而控制溫度、濕度、壓力等的房間(ISO14644-1)
當作業人員或材料由外部進入充滿清淨空氣的無塵室內時，必須避免在此同時一併將塵埃等汙染物質攜入室內。因此，在無塵室的室內與外部之間，設有以雙重門所區隔的小房間，進入室內的人或物的表面為直接吹拂清淨空氣，藉以去除附著在其等之上的塵埃。此外，還具有無法同時開啟兩道門的機構，達到遮蔽外部與無塵室之氣鎖機能。
使用空氣淋浴室
HEPA過濾器(High Efficiency Particulate Air Filter)
可作為空氣清淨機或無塵室的主要過濾器而使用。(Wikipedia)
此種空氣過濾器，具有藉由定格風量而對粒徑為0.3µm的粒子達99.97％以上的粒子捕獲率，並具有初期壓力損耗為245Pa以下的性能。
粉塵
固形物在不變更其化學組成分的情況下，變化其形狀、大小而分散成粒狀(JIS Z 8122)
超純水
藉由超純水製造裝置，以高效率的方式去除水中的懸濁物質、溶解物質、微小粒子及不純物，獲得極高純度的水。
篠山工廠的超純水製造裝置
超純水製造裝置的內部
超純水製造裝置
將上水道水、井水、工業用水等作為原水，使用離子交換樹脂、逆滲透膜、超濾膜、紫外線氧化等進行精製，以製造出高純度純水的設備。
注射用水
藉由將自來水或純淨水進行蒸餾、或是透過純淨水的超微過濾而製得的水提供做為注射所用。使用於注射劑的精製，或將其置入容器內以進行滅菌。
潔淨度等級
依潔淨度程度劃分等級。備註 例如，有關粒子濃度的等級劃分，為隨著不同粒徑之粒子濃度的程度來決定。在JIS B 9920中，係將1立方公尺的空氣中所含之粒徑0.1µm以上的微小粒子數，以10的n次方來表示，而將潔淨度等級區分為等級1〜等級8。
參考：
日本工業規格JIS B 9920-1：2019
| 洗淨度等級 | 相對於以下對象粒徑以上a)之粒子的上限粒子數濃度（個/m3） | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| （N） | 0.1 μm | 0.2 μm | 0.3 μm | 0.5 μm | 1 μm | 5 μm |
| 1 | 10 | c) | c) | c) | c) | d) |
| 2 | 100 | 24 | 10 | c) | c) | d) |
| 3 | 1,000 | 237 | 102 | 35 | c) | d) |
| 4 | 10,000 | 2,370 | 1,020 | 352 | 83 | d) |
| 5 | 100,000 | 23,700 | 10,200 | 3,520 | 832 | e), [ c),d) ] |
| 6 | 1,000,000 | 237,000 | 102,000 | 35,200 | 8,320 | 293 |
| 7 | b) | b) | b) | 352,000 | 83,200 | 2,930 |
| 8 | b) | b) | b) | 3,520,000 | 832,000 | 29,300 |
| 9 | b) | b) | b) | 35,200,000 | 8,320,000 | 293,000 |
a) 本表最大容許粒子數為，表示對象粒徑以上之粒子數的累積值。例如，潔淨度等級5，0.3 μm所示的10200個粒子，為包含相同粒徑及其粒徑以上的全部粒子。
b) 由於粒子濃度非常高，因此不適用於表中該區域的濃度界限。
c) 由於低濃度，因此粒子的採樣與統計處理不適於在此等級分類中。
d) 考慮在粒子採樣路徑中的計算損耗，低濃度的粒子、以及1 μm以上的粒徑雙方之最大容許粒子測定，在此等級分類中是不適當的。
e) 與等級5相關，且作為對象之粒徑，不指定5 μm。必須併記的情況下，亦可採用粗大粒子M顯示。
f) 此等級可適用於一般運轉狀態。